Делегация ВНИИМ им.Д.И.Менделеева (Росстандарт) приняла участие в деловой программе российского форума "Микроэлектроника", прошедшего с 21 по 26 сентября в университете Сириус (г.Сочи). Глава делегации заместитель генерального директора Константин Чекирда и руководитель отдела государственных эталонов в области измерений давления Роман Тетерук провели переговоры, направленные на применение опыта ВНИИМ в сфере разработки и производства микроэлектроники.
Роман Тетерук выступил на секции "Специальное технологическое оборудование" с докладом "Вакуумные измерения в электронной промышленности", в котором осветил актуальные проблемы вакуумных измерений при производстве микроэлектроники, а также рассказал о тенденциях и перспективах развития вакуумных измерений в России и мире.
Источник: